JEOL JIB-4700F 聚焦离子束(FIB)

　　JIB-47000F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。

　　监控、切割、组装和三维图像重构连续操作2大束流，最大90nA3.提供空前稳定的图像4.气体注入系统用于刻蚀和沉积5.最大装样 150 mm6.气锁式样品交换7.五轴全对中样品台8.多个样品分析接口