在现代工业领域中，长度尺寸测量至关重要。无论是制造业、建筑业还是科学研究，准确测量长度都是保证质量和安全的基础。为满足多样化的测量需求，如今市场上测量长度的工业仪器有许多种类型，本文介绍几种常见的工业仪器。
直尺是最常见的测量长度工具之一，用于直线测量和绘制。它简单易用、价格经济，常用于日常的测量工作，适用于短距离的测量任务。
卷尺是一种灵活的测量工具，它通过卷绕式测量带来实现测量的准确性和便携性。常用于户外测量和长距离测量，其测量范围通常较大。市场上有很多不同长度和材质的卷尺可供选择，例如钢带卷尺和尼龙带卷尺。
激光测距仪具有测量快速、准确的特点，是一种高精度的测量长度工具。它通过向目标物体发射激光束并测量激光反射回来的时间来计算距离。Micro D系列高精度激光测距仪采用精密光学调制技术，提高调制频率、增加频率宽带和频率分辨力使得Micro D避免了传统激光测距仪的固有电学缺点，提升了传统距离测量技术的精度，使得测距精度优于10μm。
光学测量仪器是一类应用于高精度测量的工业仪器。它们利用光学原理来测量长度并实现高精度测量。例如Novator系列全自动影像仪采用高精度光学成像技术和计算机数字处理技术，通过本身配备的摄像头捕捉图像，通过传输数据到电脑，再通过软件系统，合成直观的影像，再通过分析师对图像进行数据分析，然后得出最终的数据结论。不仅能进行精密的尺寸、角度等多项测量数据的分析和处理，还能够快速、准确地获取三维物体表面形态信息。
在纳米级测量中，由于物体尺寸的相对较小，传统的测量仪器往往无法满足精确的要求。而纳米级测量仪器具备高精度、高分辨率和非破坏性的特点，可以测量微小的尺寸。
SuperViewW1光学3D表面轮廓仪以白光干涉技术原理，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。
VT6000激光共聚焦显微镜以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法共同组成测量系统，能用于各种精密器件及材料表面的非接触式微纳米测量。能测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。
CP200台阶仪不同于光学轮廓仪和显微镜的是它的测量方式是接触式探针测量。它可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。
除了上述所提及的仪器外，还有一些其他的纳米级测量仪器也日益成为研究的热点，例如激光干涉仪。这些测量工具各有特点，可用于不同的纳米级尺寸测量需求。
